०१
अप्टिकल फाइबर OM4
सन्दर्भ
| ITU-T G.651.1 को परिचय | अप्टिकल पहुँच नेटवर्कको लागि ५०/१२५ μm मल्टिमोड ग्रेडेड इन्डेक्स अप्टिकल फाइबर केबलको विशेषताहरू |
| आईईसी ६०७९४- १- १ | अप्टिकल फाइबर केबलहरू-भाग १- १: सामान्य विशिष्टता- सामान्य |
| आईईसी ६०७९४- १-२ आईईसी ६०७९३-२- १० | अप्टिकल फाइबरहरू - भाग २- १०: उत्पादन विशिष्टताहरू - श्रेणी A1 मल्टिमोड फाइबरहरूको लागि खण्डीय विशिष्टता |
| आईईसी ६०७९३-१-२० | अप्टिकल फाइबर - भाग १-२०: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - फाइबर ज्यामिति |
| आईईसी ६०७९३- १-२१ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-२१: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - कोटिंग ज्यामिति |
| आईईसी ६०७९३- १-२२ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-२२: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - लम्बाइ मापन |
| आईईसी ६०७९३- १-३० | अप्टिकल फाइबर - भाग १-३०: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - फाइबर प्रुफ परीक्षण |
| आईईसी ६०७९३- १-३१ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-३१: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - तन्य शक्ति |
| आईईसी ६०७९३- १-३२ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-३२: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - कोटिंग स्ट्रिपेबिलिटी |
| आईईसी ६०७९३- १-३३ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-३३: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - तनाव क्षरण संवेदनशीलता |
| आईईसी ६०७९३- १-३४ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-३४: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - फाइबर कर्ल |
| आईईसी ६०७९३- १-४० | अप्टिकल फाइबर - भाग १-४०: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - एटेन्युएसन |
| आईईसी ६०७९३- १-४१ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-४१: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - ब्यान्डविथ |
| आईईसी ६०७९३- १-४२ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-४२: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - क्रोमेटिक फैलावट |
| आईईसी ६०७९३- १-४३ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-४३: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - संख्यात्मक एपर्चर |
| आईईसी ६०७९३- १-४६ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-४६: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - अप्टिकल ट्रान्समिटेन्समा परिवर्तनहरूको अनुगमन |
| आईईसी ६०७९३- १-४७ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-४७: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - म्याक्रोबेन्डिङ हानि |
| आईईसी ६०७९३- १-४९ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-४९: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - भिन्न मोड ढिलाइ |
| आईईसी ६०७९३- १-५० | अप्टिकल फाइबर - भाग १-५०: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - ओसिलो ताप (स्थिर अवस्था) |
| आईईसी ६०७९३- १-५१ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-५१: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - सुख्खा ताप |
| आईईसी ६०७९३- १-५२ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-५२: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - तापक्रम परिवर्तन |
| आईईसी ६०७९३- १-५३ | अप्टिकल फाइबर - भाग १-५३: मापन विधि र परीक्षण प्रक्रियाहरू - पानीमा डुबाउने |
उत्पादन परिचय
MultiCom® बेन्डिङ इन्सेन्सिटिभ OM3-300 ५०/१२५ ग्रेडेड इन्डेक्स मल्टिमोड अप्टिकल फाइबरको एक प्रकार हो। यो अप्टिकल फाइबर, कम DMD र एटेन्युएशन प्रदान गर्दै, विशेष गरी १० Gb/s इथरनेटको लागि डिजाइन गरिएको हो जसमा कम लागतको ८५० nm VCSEL लाई प्रकाश स्रोतको रूपमा प्रयोग गरिन्छ। बेन्डिङ इन्सेन्सिटिभ OM3-300 मल्टिमोड अप्टिकल फाइबरहरूले IEC ६०७९३-२-१० मा ISO/IEC ११८०१ OM3 प्राविधिक विशिष्टताहरू र A1a.2 प्रकारका अप्टिकल फाइबरहरू पूरा गर्छन् वा पार गर्छन्।
अनुप्रयोग परिदृश्यहरू
LAN, DC, SAN, COD र अन्य क्षेत्रहरू
१G/ १०G/ ४०G/ १००G नेटवर्क
३०० मिटर सम्मको प्रसारण दूरी भएको १० Gb/s नेटवर्क
प्रदर्शन सुविधाहरू
उच्च ब्यान्डविथ र कम क्षीणन
कम लागतको ८५० एनएम VCSEL १० Gb/s इथरनेटको लागि डिजाइन गरिएको उत्कृष्ट झुकाउने प्रतिरोध
कम लागतको ८५० एनएम VCSEL १० Gb/s इथरनेटको लागि डिजाइन गरिएको उत्कृष्ट झुकाउने प्रतिरोध
उत्पादन विशिष्टता
| प्यारामिटर | अवस्थाहरू | एकाइहरू | मूल्य |
| अप्टिकल | |||
| क्षीणन | ८५० एनएम | डेसिबल/कि.मी. | ≤२.४ |
| १३०० एनएम | डेसिबल/कि.मी. | ≤०.६ | |
| ब्यान्डविथ (ओभरफिल लन्च) | ८५० एनएम | MHz.km | ≥३५०० |
| १३०० एनएम | MHz.km | ≥५०० | |
| प्रभावकारी मोड ब्यान्डविथ | ८५० एनएम | MHz.km | ≥४७०० |
| १०G इथरनेट SR | ८५० एनएम | म | ३०० |
| ४०G इथरनेट ( ४०GBASE-SR४ ) | ८५० एनएम | म | १०० |
| १००G इथरनेट (१००GBASE-SR10) | ८५० एनएम | म | १०० |
| संख्यात्मक एपर्चर | ०.२००±०.०१५ | ||
| शून्य फैलावट तरंगदैर्ध्य | nm | १२९५- १३४० | |
| प्रभावकारी समूह अपवर्तक सूचकांक | ८५० एनएम | १.४८२ | |
| १३०० एनएम | १.४७७ | ||
| क्षीणन गैर-एकरूपता | डेसिबल/कि.मी. | ०.१० भन्दा कम | |
| आंशिक विच्छेदन | dBLanguage | ०.१० भन्दा कम | |
| ज्यामितीय | |||
| कोर व्यास | माइक्रोमिटर | ५०.०±२.५ | |
| कोर गैर-सर्कुलारिटी | % | ≤५.० | |
| क्ल्याडिङ व्यास | माइक्रोमिटर | १२५±१.० | |
| क्ल्याडिङ गैर-सर्कुलरिटी | % | ≤१.० | |
| कोर/क्लाडिङ कन्सेन्ट्रिसिटी त्रुटि | माइक्रोमिटर | ≤१.० | |
| कोटिंग व्यास (रंगहीन) | माइक्रोमिटर | २४५±७ | |
| कोटिंग/क्लेडिङ कन्सेन्ट्रिसिटी त्रुटि | माइक्रोमिटर | ≤१०.० | |
| वातावरणीय(८५०)nm, १३००nm) | |||
| तापक्रम साइकल चलाउने | -६०℃ देखि +८५℃ | डेसिबल/कि.मी. | ०.१० भन्दा कम |
| तापक्रम आर्द्रता साइकल चलाउने | - १०℃लाई＋८५℃ ९८% RH सम्म | डेसिबल/कि.मी. | ०.१० भन्दा कम |
| उच्च तापक्रम र उच्च आर्द्रता | ८५℃८५% RH मा | डेसिबल/कि.मी. | ०.१० भन्दा कम |
| पानीमा विसर्जन | २३ ℃ | डेसिबल/कि.मी. | ०.१० भन्दा कम |
| उच्च तापक्रम बुढ्यौली | ८५ ℃ | डेसिबल/कि.मी. | ०.१० भन्दा कम |
| मेकानिकल | |||
| प्रमाण तनाव | % | १.० | |
| केपीएसआई | १०० | ||
| कोटिंग स्ट्रिप फोर्स | चुचुरो | र | १.३–८.९ |
| औसत | र | १.५ | |
| गतिशील थकान (एनडी) | सामान्य मान | ≥२० | |
| म्याक्रोबेन्डिङ घाटा | |||
| R१५ मिमी×२ टन | ८५० एनएम १३०० एनएम | dBLanguage dBLanguage | ≤०.१ ≤०.३ |
| R७.५ मिमी×२ टन | ८५० एनएम १३०० एनएम | dBLanguage dBLanguage | ≤०.२ ≤०.५ |
| डेलिभरी लम्बाइ | |||
| मानक रील लम्बाइ | किमी | १.१- १७.६ | |
अप्टिकल फाइबर परीक्षण
उत्पादन अवधिमा, सबै अप्टिकल फाइबरहरूको परीक्षण निम्न अनुसार गरिनेछ:निम्न परीक्षण विधि।
| वस्तु | परीक्षण विधि |
| अप्टिकल विशेषताहरू | |
| क्षीणन | आईईसी ६०७९३- १-४० |
| अप्टिकल प्रसारणको परिवर्तन | IEC60793-1-46 को परिचय |
| भिन्न मोड ढिलाइ | IEC60793-1-49 को परिचय |
| मोडल ब्यान्डविथ | IEC60793-1-41 को परिचय |
| संख्यात्मक एपर्चर | IEC60793-1-43 को परिचय |
| झुकाउने क्षति | आईईसी ६०७९३- १-४७ |
| क्रोमेटिक फैलावट | आईईसी ६०७९३- १-४२ |
| ज्यामितीय विशेषताहरू | |
| कोर व्यास | आईईसी ६०७९३- १-२० |
| क्ल्याडिङ व्यास | |
| कोटिंग व्यास | |
| क्ल्याडिङ गोलाकार नभएको | |
| कोर/क्लेडिङको एकाग्रतामा त्रुटि | |
| क्ल्याडिङ/कोटिंगको एकाग्रतामा त्रुटि | |
| मेकानिकल विशेषताहरू | |
| प्रमाण परीक्षण | आईईसी ६०७९३- १-३० |
| फाइबर कर्ल | आईईसी ६०७९३- १-३४ |
| कोटिंग स्ट्रिप बल | आईईसी ६०७९३- १-३२ |
| वातावरणीय विशेषताहरू | |
| तापक्रम प्रेरित क्षीणन | आईईसी ६०७९३- १-५२ |
| सुख्खा ताप प्रेरित क्षीणन | आईईसी ६०७९३- १-५१ |
| पानीमा डुबाएर गरिने क्षीणन | आईईसी ६०७९३- १-५३ |
| ओसिलो ताप प्रेरित क्षीणन | आईईसी ६०७९३- १-५० |
प्याकिङ
४. १ अप्टिकल फाइबर उत्पादनहरू डिस्क-माउन्ट गरिनेछ। प्रत्येक डिस्क केवल एक उत्पादन लम्बाइ हुन सक्छ।
४.२ सिलिन्डरको व्यास १६ सेन्टिमिटरभन्दा कम हुनुहुँदैन। कुण्डलित अप्टिकल फाइबरहरू सफासँग मिलाइएको हुनुपर्छ, खुकुलो होइन। अप्टिकल फाइबरको दुवै छेउहरू स्थिर हुनुपर्छ र यसको भित्री छेउ स्थिर हुनुपर्छ। यसले निरीक्षणको लागि २ मिटरभन्दा बढी अप्टिकल फाइबर भण्डारण गर्न सक्छ।
४.३ अप्टिकल फाइबर उत्पादन प्लेट निम्नानुसार चिन्हित गरिनेछ: क) निर्माताको नाम र ठेगाना;
ख) उत्पादनको नाम र मानक नम्बर;
ग) फाइबर मोडेल र कारखाना नम्बर;
घ) अप्टिकल फाइबर एटेन्युएसन;
ङ) अप्टिकल फाइबरको लम्बाइ, मि.
४.४ अप्टिकल फाइबर उत्पादनहरूलाई सुरक्षाको लागि प्याकेज गरिनेछ, र त्यसपछि प्याकेजिङ बक्समा राखिनेछ, जसमा निम्न चिन्ह लगाइएको हुनेछ:
क) निर्माताको नाम र ठेगाना;
ख) उत्पादनको नाम र मानक नम्बर;
ग) अप्टिकल फाइबरको कारखाना ब्याच नम्बर;
घ) कुल तौल र प्याकेज आयामहरू;
ङ) उत्पादन वर्ष र महिना;
च) ओसिलोपन र ओसिलोपन प्रतिरोध, माथितिर र कमजोर हुने गरी प्याकिङ, भण्डारण र ढुवानी रेखाचित्रहरू।
डेलिभरी
अप्टिकल फाइबरको ढुवानी र भण्डारण गर्दा निम्न कुराहरूमा ध्यान दिनुपर्छ:
क. कोठाको तापक्रम र सापेक्षिक आर्द्रता प्रकाशबाट ६०% भन्दा कम टाढा भएको गोदाममा भण्डारण गर्नुहोस्;
ख. अप्टिकल फाइबर डिस्कहरू राख्नु वा स्ट्याक गर्नु हुँदैन; प्रतिलिपि अधिकार @२०१९, सबै अधिकार सुरक्षित। पृष्ठ ५ मध्ये ६;
ग. पानी, हिउँ र घामबाट बच्न ढुवानी गर्दा छाता छोप्नुपर्छ। कम्पन हुन नदिन ह्यान्डलिङ सावधानीपूर्वक गर्नुपर्छ।