01
Օպտիկական մանրաթել OM4
Տեղեկանք
| ITU-T G.651.1 | Օպտիկական մուտքի ցանցի համար 50/125 մկմ բազմաֆունկցիոնալ ինդեքսային օպտիկամանրաթելային մալուխի բնութագրերը |
| IEC 60794- 1- 1 | Օպտիկամանրաթելային մալուխներ-մաս 1-1. Ընդհանուր բնութագրեր- Ընդհանուր |
| IEC 60794- 1-2 IEC 60793-2- 10 | Օպտիկական մանրաթելեր – Մաս 2-10. Արտադրանքի բնութագրեր – A1 կատեգորիայի բազմաֆունկցիոնալ մանրաթելերի հատվածային բնութագրեր |
| IEC 60793-1-20 | Օպտիկական մանրաթելեր - մաս 1-20. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - մանրաթելային երկրաչափություն |
| IEC 60793- 1-21 | Օպտիկական մանրաթելեր – Մաս 1-21. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր – Ծածկույթի երկրաչափություն |
| IEC 60793- 1-22 | Օպտիկական մանրաթելեր – Մաս 1-22. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր – Երկարության չափում |
| IEC 60793- 1-30 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-30. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր. |
| IEC 60793- 1-31 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-31. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - առաձգական ուժ |
| IEC 60793- 1-32 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-32. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Ծածկույթի շերտազատում |
| IEC 60793- 1-33 | Օպտիկական մանրաթելեր – Մաս 1-33. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր – Սթրեսային կոռոզիայի նկատմամբ զգայունություն |
| IEC 60793- 1-34 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-34. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր. |
| IEC 60793- 1-40 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-40. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Թուլացում |
| IEC 60793- 1-41 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-41. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - թողունակություն |
| IEC 60793- 1-42 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-42. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Քրոմատիկ ցրում |
| IEC 60793- 1-43 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-43. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Թվային բացվածք |
| IEC 60793- 1-46 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-46. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Օպտիկական հաղորդունակության փոփոխությունների մոնիտորինգ |
| IEC 60793- 1-47 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-47. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր. |
| IEC 60793- 1-49 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-49. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Դիֆերենցիալ ռեժիմի ուշացում |
| IEC 60793- 1-50 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-50. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Խոնավ ջերմություն (կայուն վիճակ) |
| IEC 60793- 1-51 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-51. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Չոր ջերմություն |
| IEC 60793- 1-52 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-52. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Ջերմաստիճանի փոփոխություն |
| IEC 60793- 1-53 | Օպտիկական մանրաթելեր - Մաս 1-53. Չափման մեթոդներ և փորձարկման ընթացակարգեր - Ջրի ընկղմում |
Ապրանքի ներածություն
MultiCom ® ճկման անզգայուն OM3-300-ը 50/125 աստիճանի ինդեքսով բազմամոդալ օպտիկական մանրաթելերի տեսակ է: Այս օպտիկական մանրաթելը, որն ապահովում է ավելի ցածր DMD և թուլացում, հատուկ նախագծված է 10 Գբ/վրկ Ethernet-ի համար՝ որպես լույսի աղբյուր էժան 850 նմ VCSEL: Անզգայուն OM3-300 բազմամոդ օպտիկական մանրաթելերը համապատասխանում կամ գերազանցում են ISO/IEC 11801 OM3 տեխնիկական բնութագրերը և A1a.2 տեսակի օպտիկական մանրաթելերը՝ IEC 60793-2-10:
Կիրառման սցենարներ
LAN, DC, SAN, COD և այլ տարածքներ
1G/ 10G/40G/ 100G ցանց
10 Գբ/վրկ ցանց՝ մինչև 300 մ հաղորդման հեռավորությամբ
Կատարման առանձնահատկությունները
Բարձր թողունակություն և ցածր թուլացում
Գերազանց ճկման դիմադրություն, որը նախատեսված է ցածր գնով 850 նմ VCSEL 10 Գբ/վրկ Ethernet-ի համար
Գերազանց ճկման դիմադրություն, որը նախատեսված է ցածր գնով 850 նմ VCSEL 10 Գբ/վրկ Ethernet-ի համար
Ապրանքի ճշգրտում
| Պարամետր | Պայմաններ | Միավորներ | Արժեք |
| Օպտիկական | |||
| Թուլացում | 850 նմ | դԲ/կմ | ≤2.4 |
| 1300 նմ | դԲ/կմ | ≤0.6 | |
| Թողունակություն (գերլցված գործարկում) | 850 նմ | ՄՀց.կմ | ≥3500 |
| 1300 նմ | ՄՀց.կմ | ≥500 | |
| Արդյունավետ ռեժիմի թողունակություն | 850 նմ | ՄՀց.կմ | ≥4700 |
| 10G Ethernet SR | 850 նմ | մ | 300 |
| 40G Ethernet (40GBASE-SR4) | 850 նմ | մ | 100 |
| 100G Ethernet (100GBASE-SR10) | 850 նմ | մ | 100 |
| Թվային բացվածք | 0,200±0,015 | ||
| Զրո ցրման ալիքի երկարություն | նմ | 1295-1340 թթ | |
| Արդյունավետ խմբի բեկման ինդեքս | 850 նմ | 1.482 | |
| 1300 նմ | 1.477 | ||
| Թուլացման անհավասարություն | դԲ/կմ | ≤0.10 | |
| Մասնակի ընդհատում | դԲ | ≤0.10 | |
| Երկրաչափական | |||
| Միջուկի տրամագիծը | մկմ | 50,0±2,5 | |
| Հիմնական ոչ շրջանաձևություն | % | ≤5.0 | |
| Ծածկույթի տրամագիծը | մկմ | 125±1,0 | |
| Ծածկույթի ոչ շրջանաձևություն | % | ≤1.0 | |
| Core/Cladding Concentricity Error | մկմ | ≤1.0 | |
| Ծածկույթի տրամագիծը (չգունավոր) | մկմ | 245±7 | |
| Ծածկույթի/ծածկույթի համակենտրոնության սխալ | մկմ | ≤10.0 | |
| Բնապահպանական(850նմ, 1300 թնմ) | |||
| Ջերմաստիճանի հեծանիվ | -60℃-ից -85℃ | դԲ/կմ | ≤0.10 |
| Ջերմաստիճանի խոնավության ցիկլավորում | - 10℃դեպի+85℃ մինչև 98% RH | դԲ/կմ | ≤0.10 |
| Բարձր ջերմաստիճան և բարձր խոնավություն | 85℃85% RH-ով | դԲ/կմ | ≤0.10 |
| Ջրի ընկղմում | 23℃ | դԲ/կմ | ≤0.10 |
| Բարձր ջերմաստիճանի ծերացում | 85℃ | դԲ/կմ | ≤0.10 |
| Մեխանիկական | |||
| Ապացույց սթրես | % | 1.0 | |
| քփսի | 100 | ||
| Coating Strip Force | Պիկ | Ն | 1.3-8.9 |
| Միջին | Ն | 1.5 | |
| Դինամիկ հոգնածություն (Nd) | Տիպիկ արժեք | ≥20 | |
| Մակրոկռում Կորուստ | |||
| R15 մմ×2 տ | 850 նմ 1300 նմ | դԲ դԲ | ≤0.1 ≤0.3 |
| R7,5 մմ×2 տ | 850 նմ 1300 նմ | դԲ դԲ | ≤0.2 ≤0,5 |
| Առաքում Երկարություն | |||
| Ստանդարտ Reel երկարությունը | կմ | 1.1- 17.6 | |
Օպտիկական մանրաթելերի փորձարկում
Արտադրության ընթացքում բոլոր օպտիկական մանրաթելերը պետք է փորձարկվեն՝ համաձայնհետևյալ թեստի մեթոդը.
| Նյութ | Փորձարկում մեթոդ |
| Օպտիկական բնութագրեր | |
| Թուլացում | IEC 60793- 1-40 |
| Օպտիկական փոխանցման փոփոխություն | IEC60793- 1-46 |
| Դիֆերենցիալ ռեժիմի ուշացում | IEC60793- 1-49 |
| Մոդալ թողունակություն | IEC60793- 1-41 |
| Թվային բացվածք | IEC60793- 1-43 |
| Կռում կորուստ | IEC 60793- 1-47 |
| Քրոմատիկ դիսպերսիա | IEC 60793- 1-42 |
| Երկրաչափական բնութագրերը | |
| Միջուկի տրամագիծը | IEC 60793- 1-20 |
| Ծածկույթի տրամագիծը | |
| Ծածկույթի տրամագիծը | |
| Ծածկույթի ոչ շրջանաձևություն | |
| Միջուկի/ծածկույթի համակենտրոնության սխալ | |
| Ծածկույթի/ծածկույթի համակենտրոնության սխալ | |
| Մեխանիկական բնութագրեր | |
| Ապացույցի թեստ | IEC 60793- 1-30 |
| Մանրաթելային գանգուր | IEC 60793- 1-34 |
| Ծածկույթի շերտի ուժը | IEC 60793- 1-32 |
| Բնապահպանական բնութագրերը | |
| Ջերմաստիճանի առաջացրած թուլացում | IEC 60793- 1-52 |
| Չոր ջերմությունից առաջացած թուլացում | IEC 60793- 1-51 |
| Ջրի ընկղմամբ առաջացած թուլացում | IEC 60793- 1-53 |
| Խոնավ ջերմությունից առաջացած թուլացում | IEC 60793- 1-50 |
Փաթեթավորում
4. 1 Օպտիկամանրաթելային արտադրանքները պետք է տեղադրվեն սկավառակի վրա: Յուրաքանչյուր սկավառակ կարող է ունենալ միայն մեկ արտադրական երկարություն:
4.2 Մխոցի տրամագիծը չպետք է լինի 16 սմ-ից պակաս: Փաթաթված օպտիկական մանրաթելերը պետք է կոկիկ դասավորված լինեն, ոչ թե ազատ: Օպտիկական մանրաթելի երկու ծայրերը պետք է ամրացված լինեն, իսկ ներքին ծայրը` ամրացված: Այն կարող է պահպանել ավելի քան 2 մ օպտիկական մանրաթել՝ ստուգման համար:
4.3 Օպտիկական մանրաթելից պատրաստված արտադրանքի սալիկը պետք է նշվի հետևյալ կերպ. Ա) արտադրողի անվանումը և հասցեն.
Բ) Ապրանքի անվանումը և ստանդարտ համարը.
Գ) մանրաթելային մոդելը և գործարանի համարը.
Դ) օպտիկական մանրաթելերի թուլացում;
Ե) Օպտիկական մանրաթելի երկարությունը, մ.
4.4 Օպտիկական մանրաթելից պատրաստված արտադրանքը պետք է փաթեթավորվի պաշտպանության համար, այնուհետև դրվի փաթեթավորման տուփի մեջ, որի վրա պետք է նշվի.
Ա) արտադրողի անվանումը և հասցեն.
Բ) Ապրանքի անվանումը և ստանդարտ համարը.
Գ) օպտիկական մանրաթելերի գործարանային խմբաքանակի համարը.
Դ) համախառն քաշը և փաթեթի չափերը.
Ե) արտադրության տարեթիվը և ամիսը.
Զ) Փաթեթավորման, պահպանման և փոխադրման գծագրեր՝ խոնավության և խոնավության դիմադրության համար, վերև և փխրուն:
Առաքում
Օպտիկական մանրաթելերի տեղափոխումը և պահպանումը պետք է ուշադրություն դարձնեն.
Ա. Պահել լույսից 60%-ից պակաս սենյակային ջերմաստիճանով և հարաբերական խոնավությամբ պահեստում.
Բ. Օպտիկական մանրաթելային սկավառակները չպետք է դրվեն կամ շարվեն. Հեղինակային իրավունք @2019, Բոլոր իրավունքները պաշտպանված են: Էջ 5 6-ից;
Գ. Փոխադրման ժամանակ հովանոցը պետք է ծածկված լինի՝ անձրևի, ձյան և արևի ազդեցությունը կանխելու համար: Թրթռումները կանխելու համար պետք է զգույշ վարվել: