Nepali
Leave Your Message
  • फोन
    +८६-१८९०१५५००११ +८६-१३९१२७१५६९०
  • इ-मेल
    michael.ch@vip.163.com gl_chen@ssie-cn.com
  • व्हाट्सएप
    +८६-१८९०१५५००११
    • उत्पादन कोटिहरु
    विशेष उत्पादनहरू
    ०१
    OVD प्रक्रिया: 185mm G.657.A1 अप्टिकल फाइबर प्रिफर्म
    OVD प्रक्रिया: 185mm G.657.A1 अप्टिकल फाइबर प्रिफर्म

    OVD प्रक्रिया: 185mm G.657.A1 अप्टिकल फाइबर प्रिफर्म

      हामीलाई सम्पर्क गर्नुहोस

      Preform निर्दिष्टीकरण

      Preform आयामहरू

      प्रिफर्म आयामहरू तलको तालिका १.१ मा जस्तै हुनुपर्छ।

      तालिका १.१ प्रीफर्म आयामहरू

      वस्तु आवश्यकताहरु टिप्पणी
      १ औसत प्रिफर्म व्यास (OD) १३५ ~ १६० मिमी (नोट १.१)
      २ अधिकतम Preform व्यास (ODmax) ≤ 160 मिमी
      ३ न्यूनतम प्रीफर्म व्यास (ODmin) ≥ 130 मिमी
      ४ OD को सहिष्णुता (एक प्रीफर्म भित्र) ≤ २० मिमी (सीधा भागमा)
      ५ Preform लम्बाइ (ह्यान्डल भाग सहित) 2600 ~ 3600 मिमी (नोट १.२)
      ६ प्रभावकारी लम्बाइ ≥ 1800 मिमी
      ७ टेपर लम्बाइ ≤ 250 मिमी
      ८ टेपर को अन्त मा व्यास ≤ ३०
      ९ पूर्वनिर्धारित गैर-परिपत्रकता ≤ १%
      १० एकाग्रता त्रुटि ≤ ०.५ μm
      ११ उपस्थिति (नोट १.४ र १.५)

      नोट 1.1: लेजर व्यास मापन प्रणाली द्वारा 10mm अन्तराल संग प्रीफर्म व्यास सीधा भाग मा लगातार मापन गरिनेछ र मापन मान को औसत को रूप मा परिभाषित गर्न को लागी। टेपर पार्टलाई A देखि B बीचको स्थितिको रूपमा परिभाषित गरिनेछ। सीधा भागलाई B देखि C बीचको स्थितिको रूपमा परिभाषित गरिनेछ। A लाई प्रिफर्मको अन्त्यमा स्थिति हो। B प्रभावकारी कोर भएको सुरुवात स्थिति हो। C प्रभावकारी कोर भएको अन्तिम स्थिति हो। D preform को अन्तिम पक्ष हो।
      नोट १.२: चित्र १.१ मा देखाइए अनुसार "प्रीफर्म लम्बाइ" परिभाषित गरिनेछ।
      नोट १.३: प्रभावकारी भागलाई B देखि C बीचको स्थितिको रूपमा परिभाषित गरिनेछ।
      चार्जयोग्य लम्बाइ = प्रभावकारी लम्बाइ - ∑दोषमा प्रयोग गर्न नसकिने लम्बाइ (LUD)

      चित्र १.१ प्रिफर्मको आकार

      OVD प्रक्रिया

      नोट 1.4: बाहिरी आवरण क्षेत्र (चित्र 1.2 हेर्नुहोस्) मा बुलबुले आकार को आधार मा, अनुमति दिइनेछ; प्रति एकाइ भोल्युम बुलबुले को संख्या तलको तालिका 1.2 मा तोकिएको यो भन्दा बढी हुँदैन।

      तालिका १.२ प्रिफर्ममा बबल

      स्थान र बबल को आकार

      संख्या / 1,000 cm3

      कोर क्षेत्र (= कोर + भित्री आवरण)

      (टिप्पणी १.५ हेर्नुहोस्)

      बाहिरी आवरण क्षेत्र

      (=इन्टरफेस + बाहिरी आवरण)

      ~ ०.५ मिमी

      कुनै गणना छैन

      ०.५ ~ १.० मिमी

      ≤ १०

      १.० ~ १.५ मिमी

      ≤ २

      १.५ ~ २.० मिमी

      ≤ १.०

      2.1 मिमी ~

      (टिप्पणी १.५ हेर्नुहोस्)

      चित्र १.२ प्रिफर्मको क्रस-सेक्शनल दृश्य

      OVD प्रक्रिया २

      नोट 1.5: यदि त्यहाँ कुनै त्रुटिहरू छन्, जुन तल परिभाषित गरिएको छ, कोर क्षेत्र र/वा बाहिरी आवरण क्षेत्रमा, दोषको प्रत्येक छेउबाट 3 मिमी कभर गर्ने क्षेत्रलाई प्रयोग गर्न नसकिने भागको रूपमा परिभाषित गरिनेछ (चित्र 1.3)। यस अवस्थामा, प्रभावकारी लम्बाइ अनुपयोगी भागको लम्बाइ बाहेक परिभाषित गरिनेछ। अनुपयोगी भाग "Deffect MAP" द्वारा संकेत गरिनेछ, जुन निरीक्षण पानामा संलग्न गरिनेछ।
      दोषहरू:
      1. बाहिरी आवरणमा 2 मिमी भन्दा ठूलो बबल,
      2. बाहिरी आवरणमा केही बुलबुलेहरूको समूह,
      3. भित्री आवरण वा कोर मा एक बबल,
      ४. प्रिफर्ममा विदेशी पदार्थ,

      चित्र १.२ प्रिफर्मको क्रस-सेक्शनल दृश्य

      OVD प्रक्रिया 3

      चार्जयोग्य वजन

      चार्जयोग्य वजन निम्नानुसार गणना गरिनेछ;
      चार्ज गर्न मिल्ने तौल
      1. preform को कुल वजन उपकरण द्वारा परीक्षण वजन हो।
      2. "टेपर पार्ट र ह्यान्डल पार्टमा प्रभावकारी वजन छैन" अनुभव द्वारा निर्धारित एक निश्चित मूल्य हो।
      3. दोष वजन ＝ दोष भाग को मात्रा [cm3]) × 2.2 [g/cm3]; "2.2[g/cm3]" क्वार्ट्ज गिलासको घनत्व हो।
      4. "दोष भागको मात्रा" ＝ (OD[mm]/2)2 ×Σ(LUD)×π; LUD = दोषमा प्रयोग गर्न नसकिने लम्बाइ = दोष लम्बाइ + 6 [मिमी]।
      5. लेजर व्यास मापन प्रणाली द्वारा 10mm अन्तरालको साथ सीधा भाग मा preform व्यास लगातार मापन गरिनेछ।

      लक्षित फाइबर विशेषताहरू

      रेखाचित्र अवस्थाहरू र मापन अवस्थाहरू इष्टतम र स्थिर हुँदा, प्रिफर्महरूले तालिका 2.1 मा देखाइए अनुसार लक्ष्य फाइबर विशिष्टताहरू पूरा गर्ने अपेक्षा गरिन्छ।

      तालिका २.१ लक्षित फाइबर विशेषताहरू

      वस्तु

      आवश्यकताहरु

      १

      1310 एनएम मा क्षीणन

      ≤ ०.३५ dB/किमी

      1383 एनएम मा क्षीणन

      ≤ ०.३५ dB/किमी

      (नोट २.१)

      1550 एनएम मा क्षीणन

      ≤ ०.२१ dB/किमी

      1625 एनएम मा क्षीणन

      ≤ ०.२३ dB/किमी

      क्षीणता को एकरूपता

      ≤ 0.05 dB/km 1310&1550 nm मा

      २

      1310 nm मा मोड क्षेत्र व्यास

      9.0 ± 0.4 µm

      ३

      केबल कटअफ वेभलेन्थ (λcc)

      ≤ 1260 एनएम

      ४

      शून्य फैलावट तरंगदैर्ध्य (λ0)

      १३०० ~ १३२४ एनएम

      ५

      1285~1340 nm मा फैलावट

      -3.8 ~ 3.5 ps/(nm·km)

      ६

      फैलावट 1550 एनएम

      13.3 ~ 18.6 ps/(nm·km)

      ७

      फैलावट 1625 एनएम

      17.2 ~ 23.7 ps/(nm·km)

      ८

      λ0 मा फैलावट ढलान

      0.073 ~ 0.092 ps/(nm2·km)

      ९

      कोर/क्लाडिङ कन्सेन्ट्रिसिटी त्रुटि

      ≤ ०.५ µm

      १०

      म्याक्रो झुकने प्रेरित घाटा

      (नोट २.२)

      30mm व्यास, 10 टर्न, 1550nm मा

      ≤ ०.२५ dB

      30mm व्यास, 10 टर्न, 1625nm मा

      ≤ 1.0 dB

      20mm व्यास, 1 टर्न, 1550nm मा

      ≤ ०.७५ dB

      20mm व्यास, 1 टर्न, 1625nm मा

      ≤ 1.5 dB


      नोट 2.1: हाइड्रोजन एजिंग टेस्ट पछि 1383 nm मा क्षीणन तालिका 2.1 मा समावेश गरिने छैन किनभने यो अत्यधिक फाइबर रेखाचित्र अवस्थाहरूमा निर्भर गर्दछ।

      नोट 2.2: G.657.A1 फाइबरको आउटपुट अनुपात सुनिश्चित गर्न, रेखाचित्र अवस्थाहरूलाई प्रभावकारी रूपमा नियन्त्रण गर्नुपर्दछ फाइबर कट-अफ तरंगदैर्ध्य 1270 एनएम भन्दा बढी बनाउन। फाइबर कटअफ तरंगदैर्ध्य 1300nm भन्दा ठूलो हुँदा केबल कटअफ तरंगदैर्ध्य परीक्षण गर्नुपर्छ।