വീട്
ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ OM1
റഫറൻസ്
| IEC 60794- 1- 1 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ കേബിളുകൾ-ഭാഗം 1- 1: ജനറിക് സ്പെസിഫിക്കേഷൻ- പൊതുവായത് |
|
IEC60794- 1-2 IEC 60793-2- 10 |
ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ -ഭാഗം 2- 10: ഉൽപ്പന്ന സവിശേഷതകൾ - വിഭാഗം A1 മൾട്ടിമോഡ് ഫൈബറുകൾക്കുള്ള സെക്ഷണൽ സ്പെസിഫിക്കേഷൻ |
| IEC 60793- 1-20 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-20: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഫൈബർ ജ്യാമിതി |
| IEC 60793- 1-21 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-21: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - കോട്ടിംഗ് ജ്യാമിതി |
| IEC 60793- 1-22 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-22: അളക്കൽ രീതികളും പരീക്ഷണ നടപടിക്രമങ്ങളും - നീളം അളക്കൽ |
| IEC 60793- 1-30 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-30: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഫൈബർ പ്രൂഫ് ടെസ്റ്റ് |
| IEC 60793- 1-31 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-31: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ടെൻസൈൽ ശക്തി |
| IEC 60793- 1-32 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-32: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - കോട്ടിംഗ് സ്ട്രിപ്പബിലിറ്റി |
| IEC 60793- 1-33 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-33: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - സ്ട്രെസ് കോറോഷൻ സസെപ്റ്റിബിലിറ്റി |
| IEC 60793- 1-34 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-34: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഫൈബർ ചുരുളൻ |
| IEC 60793- 1-40 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-40: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - അറ്റൻവേഷൻ |
| IEC 60793- 1-41 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-41: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - ബാൻഡ്വിഡ്ത്ത് |
| IEC 60793- 1-42 | ഒപ്റ്റിക്കൽ നാരുകൾ - ഭാഗം 1-42: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - ക്രോമാറ്റിക് ഡിസ്പർഷൻ |
| IEC 60793- 1-43 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-43: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - സംഖ്യാ അപ്പെർച്ചർ |
| IEC 60793- 1-46 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-46: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - ഒപ്റ്റിക്കൽ ട്രാൻസ്മിറ്റൻസിലെ മാറ്റങ്ങളുടെ നിരീക്ഷണം |
| IEC 60793- 1-47 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-47: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - മാക്രോബെൻഡിംഗ് നഷ്ടം |
| IEC 60793- 1-49 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-49: അളക്കൽ രീതികളും ടെസ്റ്റ് നടപടിക്രമങ്ങളും - ഡിഫറൻഷ്യൽ മോഡ് കാലതാമസം |
| IEC 60793- 1-50 | ഒപ്റ്റിക്കൽ നാരുകൾ - ഭാഗം 1-50: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - നനഞ്ഞ ചൂട് (സ്ഥിരമായ അവസ്ഥ) |
| IEC 60793- 1-51 | ഒപ്റ്റിക്കൽ നാരുകൾ - ഭാഗം 1-51: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും - ഉണങ്ങിയ ചൂട് |
| IEC 60793- 1-52 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-52: അളക്കൽ രീതികളും പരിശോധന നടപടിക്രമങ്ങളും - താപനില മാറ്റം |
| IEC 60793- 1-53 | ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകൾ - ഭാഗം 1-53: അളവെടുപ്പ് രീതികളും പരിശോധനാ നടപടിക്രമങ്ങളും വെള്ളത്തിൽ മുങ്ങൽ |
ഉൽപ്പന്നം പരിചയപ്പെടുത്തൽ
ആപ്ലിക്കേഷൻ സാഹചര്യങ്ങൾ
പ്രകടന സവിശേഷതകൾ
ഉൽപ്പന്ന സ്പെസിഫിക്കേഷൻ
പരാമീറ്റർ |
വ്യവസ്ഥകൾ |
യൂണിറ്റുകൾ |
മൂല്യം |
ഒപ്റ്റിക്കൽ (എ/ബി ഗ്രേഡ്) | |||
ശോഷണം |
850 എൻഎം |
dB/km |
≤2.8/≤3.0 |
1300 എൻഎം |
dB/km |
≤0.7/≤1.0 |
|
|
ബാൻഡ്വിഡ്ത്ത് (ഓവർഫിൽഡ് സമാരംഭിക്കുക) |
850 എൻഎം |
MHz.km |
≥200/≥160 |
1300 എൻഎം |
MHz.km |
≥500/≥200 |
|
സംഖ്യാ അപ്പെർച്ചർ |
0.275 ± 0.015 |
||
ഫലപ്രദമായ ഗ്രൂപ്പ് റിഫ്രാക്റ്റീവ് ഇൻഡക്സ് |
850 എൻഎം |
1.496 |
|
1300 എൻഎം |
1.491 |
||
അറ്റൻയുവേഷൻ നോൺ യൂണിഫോർമിറ്റി |
1300 എൻഎം |
dB/km |
≤0.10 |
ഭാഗിക വിരാമം |
1300 എൻഎം |
dB |
≤0.10 |
ജ്യാമിതീയ | |||
കോർ വ്യാസം |
μm |
62.5 ± 2.5 |
|
കോർ നോൺ-വൃത്താകൃതി |
% |
≤5.0 |
|
ക്ലാഡിംഗ് വ്യാസം |
μm |
125 ± 1.0 |
|
ക്ലാഡിംഗ് നോൺ-വൃത്താകൃതി |
% |
≤1.0 |
|
കോർ/ക്ലാഡിംഗ് കോൺസെൻട്രിസിറ്റി പിശക് |
μm |
≤1.5 |
|
കോട്ടിംഗ് വ്യാസം (നിറമില്ലാത്തത്) |
μm |
242±7 |
|
|
കോട്ടിംഗ് / ക്ലാഡിംഗ് ഏകാഗ്രത പിശക് |
μm |
≤12.0 |
|
പരിസ്ഥിതി (850nm, 1300nm) | |||
താപനില സൈക്ലിംഗ് |
-60℃ വരെ ＋ 85℃ |
dB/km |
≤0.10 |
താപനില ഹ്യുമിഡിറ്റി സൈക്ലിംഗ് |
- 10℃ മുതൽ ＋85℃ വരെ 98% RH |
dB/km |
≤0.10 |
ഉയർന്ന താപനിലയും ഉയർന്ന ഈർപ്പവും |
85% RH-ൽ 85℃ |
dB/km |
≤0.10 |
വെള്ളം നിമജ്ജനം |
23℃ |
dB/km |
≤0.10 |
ഉയർന്ന താപനില പ്രായമാകൽ |
85℃ |
dB/km |
≤0.10 |
മെക്കാനിക്കൽ | |||
തെളിവ് സമ്മർദ്ദം |
% |
1.0 |
|
kpsi |
100 |
||
കോട്ടിംഗ് സ്ട്രിപ്പ് ഫോഴ്സ് |
കൊടുമുടി |
എൻ |
1.3-8.9 |
ശരാശരി |
എൻ |
1.5 |
|
ചലനാത്മക ക്ഷീണം (Nd) |
സാധാരണ മൂല്യങ്ങൾ |
≥20 |
|
മാക്രോബെൻഡിംഗ് നഷ്ടം | |||
R37.5 mm×100 t |
850 എൻഎം 1300 എൻഎം |
dB dB |
≤0.5 ≤0.5 |
ഡെലിവറി ദൈർഘ്യം | |||
സാധാരണ റീൽ നീളം |
കി.മീ |
1.1- 17.6 |
|
ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബർ പരിശോധന
നിർമ്മാണ കാലയളവിൽ, എല്ലാ ഒപ്റ്റിക്കൽ ഫൈബറുകളും ഇനിപ്പറയുന്ന ടെസ്റ്റ് രീതിക്ക് അനുസൃതമായി പരിശോധിക്കേണ്ടതാണ്.
ഇനം |
പരീക്ഷണ രീതി |
ഒപ്റ്റിക്കൽ സവിശേഷതകൾ | |
ശോഷണം |
IEC 60793- 1-40 |
ക്രോമാറ്റിക് ഡിസ്പർഷൻ |
IEC60793- 1-42 |
ഒപ്റ്റിക്കൽ ട്രാൻസ്മിഷൻ മാറ്റം |
IEC60793- 1-46 |
ഡിഫറൻഷ്യൽ മോഡ് കാലതാമസം |
IEC60793- 1-49 |
വളയുന്ന നഷ്ടം |
IEC 60793- 1-47 |
മോഡൽ ബാൻഡ്വിഡ്ത്ത് |
IEC60793- 1-41 |
സംഖ്യാ അപ്പെർച്ചർ |
IEC60793- 1-43 |
ജ്യാമിതീയ സവിശേഷതകൾ | |
കോർ വ്യാസം |
IEC 60793- 1-20 |
ക്ലാഡിംഗ് വ്യാസം | |
കോട്ടിംഗ് വ്യാസം | |
ക്ലാഡിംഗ് നോൺ-വൃത്താകൃതി | |
കോർ/ക്ലാഡിംഗ് കോൺസെൻട്രിസിറ്റി പിശക് | |
ക്ലാഡിംഗ്/കോട്ടിംഗ് കോൺസെൻട്രിസിറ്റി പിശക് | |
മെക്കാനിക്കൽ സവിശേഷതകൾ | |
തെളിവ് പരിശോധന |
IEC 60793- 1-30 |
ഫൈബർ ചുരുളൻ |
IEC 60793- 1-34 |
കോട്ടിംഗ് സ്ട്രിപ്പ് ഫോഴ്സ് |
IEC 60793- 1-32 |
പാരിസ്ഥിതിക സവിശേഷതകൾ | |
താപനില പ്രേരിതമായ ശോഷണം |
IEC 60793- 1-52 |
വരണ്ട ചൂട് പ്രേരിതമായ ശോഷണം |
IEC 60793- 1-51 |
വെള്ളം നിമജ്ജനം പ്രേരിതമായ ശോഷണം |
IEC 60793- 1-53 |
നനഞ്ഞ ചൂട് പ്രേരിതമായ അറ്റന്യൂവേഷൻ |
IEC 60793- 1-50 |