בית
סיבים אופטיים OM1
התייחסות
| IEC 60794- 1- 1 | כבלי סיבים אופטיים-חלק 1- 1: מפרט כללי- כללי |
|
IEC60794- 1-2 IEC 60793-2-10 |
סיבים אופטיים - חלק 2- 10: מפרטי מוצר - מפרט חתך עבור סיבים מולטי-מודים בקטגוריה A1 |
| IEC 60793- 1-20 | סיבים אופטיים - חלק 1-20: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - גיאומטריית סיבים |
| IEC 60793- 1-21 | סיבים אופטיים - חלק 1-21: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - גיאומטריית ציפוי |
| IEC 60793- 1-22 | סיבים אופטיים - חלק 1-22: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - מדידת אורך |
| IEC 60793- 1-30 | סיבים אופטיים - חלק 1-30: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - בדיקת סיבים |
| IEC 60793- 1-31 | סיבים אופטיים - חלק 1-31: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - חוזק מתיחה |
| IEC 60793- 1-32 | סיבים אופטיים - חלק 1-32: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - יכולת הפשטת ציפוי |
| IEC 60793- 1-33 | סיבים אופטיים - חלק 1-33: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - רגישות לקורוזיה למתח |
| IEC 60793- 1-34 | סיבים אופטיים - חלק 1-34: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - סלסול סיבים |
| IEC 60793- 1-40 | סיבים אופטיים - חלק 1-40: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - הנחתה |
| IEC 60793- 1-41 | סיבים אופטיים - חלק 1-41: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - רוחב פס |
| IEC 60793- 1-42 | סיבים אופטיים - חלק 1-42: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - פיזור כרומטי |
| IEC 60793- 1-43 | סיבים אופטיים - חלק 1-43: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - צמצם מספרי |
| IEC 60793- 1-46 | סיבים אופטיים - חלק 1-46: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - ניטור שינויים בשידור אופטי |
| IEC 60793- 1-47 | סיבים אופטיים - חלק 1-47: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - אובדן Macrobending |
| IEC 60793- 1-49 | סיבים אופטיים - חלק 1-49: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - השהיית מצב דיפרנציאלי |
| IEC 60793- 1-50 | סיבים אופטיים - חלק 1-50: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - חום לח (מצב יציב) |
| IEC 60793- 1-51 | סיבים אופטיים - חלק 1-51: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - חום יבש |
| IEC 60793- 1-52 | סיבים אופטיים - חלק 1-52: שיטות מדידה ונהלי בדיקה - שינוי טמפרטורה |
| IEC 60793- 1-53 | סיבים אופטיים - חלק 1-53: שיטות מדידה ונהלי בדיקה טבילת מים |
הצגת המוצר
תרחישי יישום
תכונות ביצועים
מפרט מוצר
פָּרָמֶטֶר |
תנאים |
יחידות |
ערך |
אופטי (דרגת A/B) | |||
הנחתה |
850 ננומטר |
dB/km |
≤2.8/≤3.0 |
1300 ננומטר |
dB/km |
≤0.7/≤1.0 |
|
|
רוחב פס (מלא יתר על המידה לְהַשִׁיק) |
850 ננומטר |
MHz.km |
≥200/≥160 |
1300 ננומטר |
MHz.km |
≥500/≥200 |
|
צמצם מספרי |
0.275±0.015 |
||
אינדקס שבירה קבוצתי אפקטיבי |
850 ננומטר |
1.496 |
|
1300 ננומטר |
1.491 |
||
אי אחידות הנחתה |
1300 ננומטר |
dB/km |
≤0.10 |
אי רציפות חלקית |
1300 ננומטר |
dB |
≤0.10 |
הַנדָסִי | |||
קוטר ליבה |
מיקרומטר |
62.5±2.5 |
|
אי-מעגליות ליבה |
% |
≤5.0 |
|
קוטר חיפוי |
מיקרומטר |
125±1.0 |
|
חיפוי אי מעגליות |
% |
≤1.0 |
|
שגיאת ריכוזיות ליבה/חיפוי |
מיקרומטר |
≤1.5 |
|
קוטר ציפוי (לא צבעוני) |
מיקרומטר |
242±7 |
|
|
ציפוי/חיפוי שגיאת ריכוזיות |
מיקרומטר |
≤12.0 |
|
סביבתי (850 ננומטר, 1300 ננומטר) | |||
רכיבת טמפרטורה |
-60℃ עד ＋ 85℃ |
dB/km |
≤0.10 |
רכיבת טמפרטורה לחות |
- 10℃ עד ＋85℃ עד 98% RH |
dB/km |
≤0.10 |
טמפרטורה גבוהה ולחות גבוהה |
85℃ ב-85% RH |
dB/km |
≤0.10 |
טבילה במים |
23℃ |
dB/km |
≤0.10 |
הזדקנות בטמפרטורה גבוהה |
85℃ |
dB/km |
≤0.10 |
מֵכָנִי | |||
הוכחה ללחץ |
% |
1.0 |
|
kpsi |
100 |
||
כוח רצועת ציפוי |
שִׂיא |
נ |
1.3-8.9 |
מְמוּצָע |
נ |
1.5 |
|
עייפות דינמית (Nd) |
ערכים אופייניים |
≥20 |
|
הפסד מאקרו | |||
R37.5 מ"מ × 100 ט |
850 ננומטר 1300 ננומטר |
dB dB |
≤0.5 ≤0.5 |
אורך משלוח | |||
אורך סליל סטנדרטי |
ק"מ |
1.1-17.6 |
|
בדיקת סיבים אופטיים
במהלך תקופת הייצור, כל הסיבים האופטיים ייבדקו בהתאם לשיטת הבדיקה הבאה.
פריט |
שיטת בדיקה |
מאפיינים אופטיים | |
הנחתה |
IEC 60793- 1-40 |
פיזור כרומטי |
IEC60793- 1-42 |
שינוי שידור אופטי |
IEC60793- 1-46 |
השהיית מצב דיפרנציאלי |
IEC60793- 1-49 |
אובדן כיפוף |
IEC 60793- 1-47 |
רוחב פס מודאלי |
IEC60793- 1-41 |
צמצם מספרי |
IEC60793- 1-43 |
מאפיינים גיאומטריים | |
קוטר הליבה |
IEC 60793- 1-20 |
קוטר חיפוי | |
קוטר ציפוי | |
אי-מעגליות חיפוי | |
שגיאת קונצנטריות ליבה/חיפוי | |
שגיאת ריכוזיות חיפוי/ציפוי | |
מאפיינים מכניים | |
מבחן הוכחה |
IEC 60793- 1-30 |
תלתל סיבים |
IEC 60793- 1-34 |
כוח פס ציפוי |
IEC 60793- 1-32 |
מאפיינים סביבתיים | |
הנחתה הנגרמת על ידי טמפרטורה |
IEC 60793- 1-52 |
הנחתה הנגרמת על ידי חום יבש |
IEC 60793- 1-51 |
טבילה במים הנחתה |
IEC 60793- 1-53 |
הנחתה הנגרמת על ידי חום לח |
IEC 60793- 1-50 |