Zuntz optikoa OM1
Erreferentzia
| IEC 60794-1-1 | Zuntz optikoko kableak-1. zatia- 1: Zehaztapen orokorra- Orokorra |
|
IEC60794- 1-2 IEC 60793-2-10 |
Zuntz optikoak -2. zatia- 10: Produktuen zehaztapenak - A1 kategoriako zuntz anitzeko zehaztapen sekzionalak |
| IEC 60793- 1-20 | Zuntz optikoak - 1-20. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Zuntz-geometria |
| IEC 60793- 1-21 | Zuntz optikoak - 1-21. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Estalduraren geometria |
| IEC 60793- 1-22 | Zuntz optikoak - 1-22. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Luzera neurtzea |
| IEC 60793- 1-30 | Zuntz optikoak - 1-30. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Zuntzekiko froga |
| IEC 60793-1-31 | Zuntz optikoak - 1-31. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Trakzio-erresistentzia |
| IEC 60793- 1-32 | Zuntz optikoak - 1-32. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Estaldura kentzeko gaitasuna |
| IEC 60793- 1-33 | Zuntz optikoak - 1-33. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Tentsio-korrosioarekiko sentikortasuna |
| IEC 60793- 1-34 | Zuntz optikoak - 1-34 zatia: neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Zuntz kizkurra |
| IEC 60793- 1-40 | Zuntz optikoak - 1-40. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Atenuazioa |
| IEC 60793-1-41 | Zuntz optikoak - 1-41. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Banda-zabalera |
| IEC 60793- 1-42 | Zuntz optikoak - 1-42. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Dispertsio kromatikoa |
| IEC 60793- 1-43 | Zuntz optikoak - 1-43. zatia: Neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Zenbakizko irekidura |
| IEC 60793-1-46 | Zuntz optikoak - 1-46. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Transmitantzia optikoaren aldaketen jarraipena. |
| IEC 60793- 1-47 | Zuntz optikoak - 1-47. zatia: neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Makroflexio-galera |
| IEC 60793- 1-49 | Zuntz optikoak - 1-49. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Modu diferentziala atzerapena |
| IEC 60793- 1-50 | Zuntz optikoak - 1-50. zatia: neurtzeko metodoak eta proba-prozedurak - Bero hezea (egoera egonkorra) |
| IEC 60793-1-51 | Zuntz optikoak - 1-51. zatia: Neurketa-metodoak eta proba-prozedurak - Bero lehorra |
| IEC 60793- 1-52 | Zuntz optikoak - 1-52. zatia: Neurtzeko metodoak eta saiakuntza-prozedurak - Tenperatura-aldaketa |
| IEC 60793- 1-53 | Zuntz optikoak - 1-53. zatia: Neurketa-metodoak eta saiakuntza-prozedurak Ur-murgiltzea |
Produktuaren Aurkezpena
Aplikazio-eszenatokiak
Errendimendu Ezaugarriak
Produktuaren zehaztapena
Parametroa |
Baldintzak |
Unitateak |
Balioa |
Optikoa (A/B kalifikazioa) | |||
Atenuazioa |
850 nm |
dB/km |
≤2,8/≤3,0 |
1300 nm |
dB/km |
≤0,7/≤1,0 |
|
|
Banda zabalera (Gehiegi beteta Abiarazi) |
850 nm |
MHz.km |
≥200/≥160 |
1300 nm |
MHz.km |
≥500/≥200 |
|
Zenbakizko Irekidura |
0,275±0,015 |
||
Talde eraginkorra errefrakzio-indizea |
850 nm |
1.496 |
|
1300 nm |
1.491 |
||
Atenuazioa Ez-uniformitatea |
1300 nm |
dB/km |
≤0,10 |
Etenaldi partziala |
1300 nm |
dB |
≤0,10 |
Geometrikoa | |||
Nukleoaren diametroa |
μm |
62,5±2,5 |
|
Oinarrizko Ez-Zirkulartasuna |
% |
≤5,0 |
|
Estalduraren Diametroa |
μm |
125±1,0 |
|
Estaldura Ez-Zirkulartasuna |
% |
≤1,0 |
|
Nukleoaren/estalduraren kontzentrismoaren errorea |
μm |
≤1,5 |
|
Estalduraren diametroa (kolorerik gabekoa) |
μm |
242±7 |
|
|
Estaldura/Estaldura Zentrikotasun errorea |
μm |
≤12,0 |
|
Ingurumena (850 nm, 1300 nm) | |||
Tenperatura Txirrindularitza |
-60℃ to + 85℃ |
dB/km |
≤0,10 |
Tenperatura Hezetasuna Txirrindularitza |
- 10 ℃ eta > 85 ℃ arte % 98 RH |
dB/km |
≤0,10 |
Tenperatura eta Hezetasun Altuak |
85 ℃ RH% 85ean |
dB/km |
≤0,10 |
Ur-murgiltzea |
23℃ |
dB/km |
≤0,10 |
Tenperatura handiko zahartzea |
85℃ |
dB/km |
≤0,10 |
Mekanikoa | |||
Froga Estresa |
% |
1.0 |
|
kpsi |
100 |
||
Estaldura Strip Indarra |
Gailurra |
N |
1,3-8,9 |
Batez bestekoa |
N |
1.5 |
|
Neke dinamikoa (Nd) |
Balio Tipikoak |
≥20 |
|
Makrobending galera | |||
R37,5 mm×100 t |
850 nm 1300 nm |
dB dB |
≤0,5 ≤0,5 |
Entrega-luzera | |||
Bobinaren luzera estandarra |
km |
1.1- 17.6 |
|
Zuntz optikoko proba
Fabrikazio-aldian, zuntz optiko guztiak probatu egingo dira hurrengo proba-metodoaren arabera.
Elementua |
Proba metodoa |
Ezaugarri optikoak | |
Atenuazioa |
IEC 60793- 1-40 |
Dispertsio kromatikoa |
IEC60793-1-42 |
Transmisio optikoaren aldaketa |
IEC60793-1-46 |
Modu diferentziala atzerapena |
IEC60793-1-49 |
Tolestura-galera |
IEC 60793-1-47 |
Banda-zabalera modala |
IEC60793-1-41 |
Zenbakizko irekidura |
IEC60793-1-43 |
Ezaugarri geometrikoak | |
Nukleoaren diametroa |
IEC 60793- 1-20 |
Estalduraren diametroa | |
Estalduraren diametroa | |
Estaldura ez-zirkulartasuna | |
Nukleoaren/estalduraren zentrokidetasunaren errorea | |
Estaldura/estaldura zentrokidetasun errorea | |
Ezaugarri mekanikoak | |
Froga proba |
IEC 60793- 1-30 |
Zuntz kizkurra |
IEC 60793- 1-34 |
Estaldura-zerrenda-indarra |
IEC 60793- 1-32 |
Ingurumenaren ezaugarriak | |
Tenperaturak eragindako atenuazioa |
IEC 60793- 1-52 |
Bero lehorra eragindako atenuazioa |
IEC 60793-1-51 |
Ur-murgiltzeak eragindako atenuazioa |
IEC 60793- 1-53 |
Bero hezeak eragindako atenuazioa |
IEC 60793- 1-50 |

Hasiera